WITec掃描近場光學(xué)顯微鏡 alpha300S

WITec alpha 300S是一種純近場光學(xué)顯微鏡，在很多樣品上都可獲得*的超高分辨率，并且擁有透射與反射式兩種模式。

該近場光學(xué)顯微鏡不同于其他的超分辨顯微鏡，如 STED 和 STORM，后二者往往受限于熒光染料分子的可選種類及特殊的激發(fā)光源。 alpha300S 系統(tǒng)采用軟件可控的快速自動(dòng)進(jìn)針及調(diào)節(jié)等自動(dòng)測試流程，操作非常簡便、直觀。

由于近場光學(xué)信號極其微弱，alpha300 S 近場光學(xué)顯微鏡配備高靈敏單光子計(jì)數(shù)的光電倍增管或雪崩二極管，并同時(shí)提供檢測器快速超載保護(hù)。更重要的是，UHTS 光譜儀可與 alpha300S系統(tǒng)兼容，實(shí)現(xiàn)近場光譜與成像測量。

WITec掃描近場光學(xué)顯微鏡 alpha300S

WITec alpha 300S是一種純近場光學(xué)顯微鏡，在很多樣品上都可獲得*的超高分辨率，并且擁有透射與反射式兩種模式。

關(guān)鍵特性：

• 突破衍射極限的空間光學(xué)分辨率（橫向約 60 nm)

• *的 SNOM 探針技術(shù)

• 在空氣與液體中均可使用

• 包含多種原子力與光學(xué)顯微鏡模式

• 非破壞性、無需標(biāo)記的超高分辨成像技術(shù)，基本不需要樣品制備

• 可升級到關(guān)聯(lián)的共聚焦拉曼成像和近場拉曼成像

• 集成三種技術(shù)到一臺(tái)儀器上：共聚焦顯微鏡, AFM 和 SNOM